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X射线分析仪器技术研讨会(天津站)
发布时间:2018-05-03   点击次数:242次

如何让X射线分析助力您的材料研究?     

 

样品来源复杂?实验人员没有相关知识背景?精密仪器有操作风险?
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帕纳科X射线分析技术研讨会(天津站)
日期:5月18日(周五)
时间:9:00-17:00
地点:天津金泽大酒店6层多功能3号厅

 

报告内容:

    

1,马尔文帕纳科:助力你的材料研究
2,道无止境,臻于至善:新生代元素分析技术
3,用x射线衍射技术探究材料微观结构
4,x射线分析技术在工业检测及研发中的应用
5,在围观世界里丈量:纳米粒度与Zeta电位测量技术

 

主讲人信息:  

 

王 林 博士
XRD应用专家
XRD产品

熊佳星
XRF应用专家
XRF产品

张志杰 博士
GPC产品专家

 

会场信息:     

 

特此邀请您光临出席此次研讨会,共同探讨x射线分析仪器技术的发展!

地点:天津金泽大酒店6层多功能3号厅
地址:天津市南开区南京路338号
交通:地铁1号线海光寺站A出口出站即到
:马  珑 ,

             徐瑞革 ,

报名参会,请发邮件至:shaokun.yan@panalytical.com

 

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